برگشت به شبکه آزمایشگاههای تحقیقاتی دانشگاه علم و صنعت ایران    [صفحه اصلی ]   [ English ]   بخش‌های اصلی صفحه اصلی معرفی آزمایشگاه پیام مدیر تجهیزات آنالیز حرارتی همزمان (STA) میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) اندازه گیری سطح ویژه (BET) و آنالیز جذب و دفع شیمیایی تخلخل سنج هلیوم دستگاه خستگی محوری، کشش و فشار 5 تن دستگاه اندازه گیری کشش سطحی به روش قطره چرخان اندازه گیری کشش سطحی به روش قطره آویزان اندازه گیری تراوایی نسبی مایع- مایع به روش ناپایا سری دستگاه های برش، آماده سازی و شستشوی مغزه بررسی رفتار فازی سیال (PVT) پتانسیو/گالوانواستات اندازه گیری هدایت الکتریکی غشاهای پلیمری اندازه گیری زاویه تماس و کشش سطحی آنالیز کالریمتری تفاضلی روبشی DSC دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس XRF اندازه گیری هدایت الکتریکی غشاهای پلیمری دستگاه مانت گرم با سیستم آبگرد آزمون سختی سنجی تعرفه خدمات پذیرش غیر حضوری فرم درخواست ثبت آزمون راهنمای پرداخت هزینه آزمون اخبار تماس با ما شبکه آزمایشگاهی فناوری های راهبردی جستجو در پایگاه جستجوی پیشرفته دریافت اطلاعات پایگاه نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه، در کادر زیر وارد کنید. دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکسXRF  | تاریخ ارسال: ۱۳۹۶/۹/۲۸ |  شرکت سازنده Philips ( هلند) مدل دستگاه: PW1480 آنالیز نیمه‌کمی و کیفی مواد مختلف شناسایی عناصر از فلوئور (F) تا اورانیوم (U) آنالیز عناصر اصلی سنگ‌ها و رسوبات آنالیز نمونه‌های زمین‌شناسی و فلزی آنالیز سیمان، نسوز و سرامیک گزارش نتایج به صورت اکسیدی/عنصری دفعات مشاهده: ۱۷۳۷ بار   |   دفعات چاپ: ۴۲۷ بار   |   دفعات ارسال به دیگران: ۰ بار   |   ۰ نظر Persian site map - English site map - Created in 0.14 seconds with 46 queries by YEKTAWEB 4709