[صفحه اصلی ]   [ English ]  
بخش‌های اصلی
صفحه اصلی::
مدیریت دانشکده::
درباره دانشکده ::
معرفی افراد::
گروه فیزیک حالت جامد::
گروه فیزیک اتمی-مولکولی::
امور آموزش::
امور پژوهش::
آزمایشگاه‌های تحقیقاتی::
اخبار و رویدادها::
تسهیلات پایگاه::
::
سخنرانی های 96

AWT IMAGE

..
اطلاعیه سقف نمره ی دکتری

..
نظرسنجی
سایت دانشکده فیزیک را چگونه ارزیابی می کنید؟
عالی
خوب
متوسط
ضعیف
   
..
جستجو

جستجوی پیشرفته
..
اطلاعات تماس
AWT IMAGE
آدرس: تهران، میدان رسالت،خیابان هنگام، دانشگاه علم و صنعت ایران، دانشکده فیزیک
تلفن دفتر دانشکده : 77240477
شماره نمابر : 77240497
تلفن مستقیم آموزش: 77240179 
آموزش-کارشناسی: 73225856    
تحصیلات تکمیلی: 73225892
پست الکترونیک: physics@iust.ac.ir
..
:: محمدرضا جعفرفرد ::
 | تاریخ ارسال: ۱۳۹۵/۱۰/۱۴ | 

AWT IMAGE

Google scholar

نام و نام خانوادگی: محمدرضا جعفرفرد

مرتبه علمی: استادیار

تلفن داخلی: 5886

فاکس: 77240497

آدرس پست الکترونیکی: mr_jafarfard@yahoo.com

آدرس: دانشکده فیزیک، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران،ایران

دانشگاه های محل تحصیل:

• دکتری، دانشگاه یان سی (Yonsei)، سئول، کره جنوبی، 2014

• کارشناسی ارشد، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران، ایران 1389

• کارشناسی، دانشگاه شهید بهشتی، ایران 1387

زمینه های تحقیقاتی:

  • بیومدیکال اپتیک
  • میکروسکوپ دیجیتال هولوگرافی

مقالات مجلات:

  1. Double-field-of-view, quasi-common-path interferometer using Fourier domain multiplexing

B Tayebi, F Sharif, MR Jafarfard, DY Kim

Optics Express, 23, 26825 (2015)

  1. Large step-phase measurement by a reduced-phase triple-illumination interferometer

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, YS Song, D Har, DY Kim

Optics express, 23, 11264 (2015)

  1. Optical unwrapping by triple illumination interferometer

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, Y Sik Song, D.Y.Kim

SPIE Photonics west, (2015)

  1. Reduction of phase volume error in off-axis quantitative phase microscopy using optimum phase-shift

MR Jafarfard, B Tayebi, R Jalali Nasab, D. Y. Kim

SPIE OPTO, 93860P-93860P-11 (2015)

  1. Effect of the angle accuracy in reduced-phase dual-illumination interferometer

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, DY Kim

SPIE/COS Photonics Asia, 92711V-92711V-6 (2014)

  1. Dispersion measurement of optical fiber using dual wavelength diffraction phase microscope

MR Jafarfard, B Tayebi, RJ Nasab, DY Kim

SPIE/COS Photonics Asia, 927119-927119-4 (2014)

  1. Optimum phase shift for quantitative phase microscopy in volume measurement

MR Jafarfard, B Tayebi, S Lee, YS Bae, DY Kim

JOSA A, 31, 2429 (2014)

  1. Reduced-phase dual-illumination interferometer for measuring large stepped objects

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, YS Bae, SHH Shokuh, DY Kim

Optics letters, 39, 5740 (2014)

  1. Transparent stepped phase measurement using two illuminating beams

B Tayebi, F Sharif, MR Jafarfard, DY Kim

SPIE Optical Engineering+ Applications, 920306-920306-6 (2014)

  1. Dual-wavelength diffraction phase microscopy for real-time dispersion measurement

MR Jafarfard, B Tayebi, DY Kim

SPIE Optical Engineering+ Applications92030T-92030T-4 (2014)

  1. Dual-wavelength diffraction phase microscopy for simultaneous measurement of refractive index and thickness

MR Jafarfard, S Moon, B Tayebi, DY Kim

Optics letters, 39, 2908 (2014)

  1. Measurement of refractive index profile of optical fiber using the diffraction phase microscope

MR JafarFard, S Moon

Korean Journal of Optics and Photonics, 23, 135 (2012)

دفعات مشاهده: 1294 بار   |   دفعات چاپ: 45 بار   |   دفعات ارسال به دیگران: 0 بار   |   0 نظر
::
Persian site map - English site map - Created in 0.116 seconds with 1023 queries by yektaweb 3506