[صفحه اصلی ]   [ English ]  
بخش‌های اصلی
صفحه اصلی::
مدیریت دانشکده::
درباره دانشکده ::
معرفی افراد::
گروه فیزیک حالت جامد::
گروه فیزیک اتمی-مولکولی::
امور آموزش::
امور پژوهش::
آزمایشگاه‌های تحقیقاتی::
اخبار و رویدادها::
تسهیلات پایگاه::
::
سخنرانی های 96

AWT IMAGE

..
زمان بندی مصاحبه دکتری 96

AWT IMAGE

..
نظرسنجی
سایت دانشکده فیزیک را چگونه ارزیابی می کنید؟
عالی
خوب
متوسط
ضعیف
   
..
جستجو

جستجوی پیشرفته
..
اطلاعات تماس
AWT IMAGE
آدرس: تهران، میدان رسالت،خیابان هنگام، دانشگاه علم و صنعت ایران، دانشکده فیزیک
تلفن دفتر دانشکده : 77240477
شماره نمابر : 77240497
تلفن مستقیم آموزش: 77240179 
آموزش-کارشناسی: 73225856    
تحصیلات تکمیلی: 73225892
پست الکترونیک: physics@iust.ac.ir
..
:: محمدرضا جعفرفرد ::
 | تاریخ ارسال: ۱۳۹۵/۱۰/۱۴ | 

AWT IMAGE

Google scholar

نام و نام خانوادگی: محمدرضا جعفرفرد

مرتبه علمی: استادیار

تلفن داخلی: 5886

فاکس: 77240497

آدرس پست الکترونیکی: mr_jafarfard@yahoo.com

آدرس: دانشکده فیزیک، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران،ایران

دانشگاه های محل تحصیل:

• دکتری، دانشگاه یان سی (Yonsei)، سئول، کره جنوبی، 2014

• کارشناسی ارشد، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران، ایران 1389

• کارشناسی، دانشگاه شهید بهشتی، ایران 1387

زمینه های تحقیقاتی:

  • بیومدیکال اپتیک
  • میکروسکوپ دیجیتال هولوگرافی

مقالات مجلات:

  1. Double-field-of-view, quasi-common-path interferometer using Fourier domain multiplexing

B Tayebi, F Sharif, MR Jafarfard, DY Kim

Optics Express, 23, 26825 (2015)

  1. Large step-phase measurement by a reduced-phase triple-illumination interferometer

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, YS Song, D Har, DY Kim

Optics express, 23, 11264 (2015)

  1. Optical unwrapping by triple illumination interferometer

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, Y Sik Song, D.Y.Kim

SPIE Photonics west, (2015)

  1. Reduction of phase volume error in off-axis quantitative phase microscopy using optimum phase-shift

MR Jafarfard, B Tayebi, R Jalali Nasab, D. Y. Kim

SPIE OPTO, 93860P-93860P-11 (2015)

  1. Effect of the angle accuracy in reduced-phase dual-illumination interferometer

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, DY Kim

SPIE/COS Photonics Asia, 92711V-92711V-6 (2014)

  1. Dispersion measurement of optical fiber using dual wavelength diffraction phase microscope

MR Jafarfard, B Tayebi, RJ Nasab, DY Kim

SPIE/COS Photonics Asia, 927119-927119-4 (2014)

  1. Optimum phase shift for quantitative phase microscopy in volume measurement

MR Jafarfard, B Tayebi, S Lee, YS Bae, DY Kim

JOSA A, 31, 2429 (2014)

  1. Reduced-phase dual-illumination interferometer for measuring large stepped objects

B Tayebi, MR Jafarfard, F Sharif, YS Bae, SHH Shokuh, DY Kim

Optics letters, 39, 5740 (2014)

  1. Transparent stepped phase measurement using two illuminating beams

B Tayebi, F Sharif, MR Jafarfard, DY Kim

SPIE Optical Engineering+ Applications, 920306-920306-6 (2014)

  1. Dual-wavelength diffraction phase microscopy for real-time dispersion measurement

MR Jafarfard, B Tayebi, DY Kim

SPIE Optical Engineering+ Applications92030T-92030T-4 (2014)

  1. Dual-wavelength diffraction phase microscopy for simultaneous measurement of refractive index and thickness

MR Jafarfard, S Moon, B Tayebi, DY Kim

Optics letters, 39, 2908 (2014)

  1. Measurement of refractive index profile of optical fiber using the diffraction phase microscope

MR JafarFard, S Moon

Korean Journal of Optics and Photonics, 23, 135 (2012)

دفعات مشاهده: 1034 بار   |   دفعات چاپ: 18 بار   |   دفعات ارسال به دیگران: 0 بار   |   0 نظر
::
Persian site map - English site map - Created in 0.779 seconds with 1024 queries by yektaweb 3455