رونمایی از دستگاه XRD با حضور هیات رییسه دانشگاه

 
همزمان با هفته پژوهش، دستگاه «XRD»، بیست و پنج آذرماه 1397با حضور هیات رییسه دانشگاه در آزمایشگاه مرجع رونمایی شد.
در این مراسم، که با حضور دکتر ذاکری (رییس دانشگاه)، دکتر صدر (مشاور عالی رییس و مدیر کل حوزه ریاست)، دکتر محمدی (معاون پژوهش و فناوری)، دکتر اکبری (معاون دانشجویی)، دکتر شریعت (معاون فرهنگی و اجتماعی)، دکتر واحدی (معاون آموزشی)، دکتر سیدین (معاون اداری، مالی و توسعه منابع) و دکتر سلطانیه (مدیر امور پژوهش) برگزار شد، ابتدا دکتر سلطانیه از حمایت های معاون پژوهش و فناوری و معاون اداری، مالی و توسعه منابع برای خرید این دستگاه تشکر و تقدیر کرد. دکتر سیدین نیز هزینه خرید این دستگاه را 27 میلیارد ریال اعلام و تذکر داد دو دستگاه پیشرفته دیگر نیز خریداری شده که به محض دریافت، در آزمایشگاه مرجع مستقر خواهد شد.
سپس دکتر ماندانا عادلی (مدیر تحصیلات تکمیلی دانشکده مهندسی مواد و متالورژی و سرپرست آزمایشگاه اشعه ایکس) به عنوان استاد مسئول دستگاه XRD، توضیحاتی در خصوص ویژگیها، کاربردها و مزیتهای دستگاه که برای بررسی ساختار کریستالی و تعیین فازهای مواد کاربرد دارد، ارایه کرد. وی توضیح داد: پراش اشعه ایکس X-Ray Diffraction  یک روش غیر تخریبی با چند کاربرد است که اطلاعات جامعی درباره ترکیبات شیمیایی و ساختار کریستالین مواد طبیعی و صنعتی ارائه می ‌دهد. وی گفت: XRD مدل D8 advance، ساخت شرکت Bruker آلمان و دستگاه پیشرفته و شماره یک حال حاضر دنیاست. وی افزود: این دستگاه مجهز به دتکتور LYNXEYE XE-T است که بهترین آشکارساز خطی در جهان به شمار می رود که از جمله ویژگی ­های بارز آن، سهولت استفاده، سرعت بالای آنالیز (450 برابر بیشتر از آشکاسازهای معمولی با سیستم نقطه ­ای)، قابلیت حمل و کیفیت بالا می باشد. از آنجایی که این آشکارساز رزولوشن انرژی را چهار برابر بیشتر از آشکارسازهای متداول می­ کند، نیاز به فیلترهای K-Beta و مونوکرومترهای ثانویه را از بین می برد که افزایش سیگنال و کاهش چشمگیر در background و در نتیجه، تشخیص بهتر فازها را موجب می­ شود.
 

همچنین مهندس فصاحت کارشناس دستگاه، توضیحاتی را در ارتباط با قابلیت­ های دستگاه حاضر ارائه کرد. وی گفت: دستگاه XRD قابلیت انجام سه آنالیز 1) پراش اشعه ایکس X-Ray Diffraction) )؛ 2)   Grazing  و 3) Small Angle X-ray Scattering - SAXS را دارد. با روش Grazing امکان مطالعه و شناسایی محصولات لایه نشانی روی نمونه‌های لایه نازک و پوشش‌ها فراهم است و SAXS (Small Angle X-ray Scattering) یا همان پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک، روشی برای ارزیابی توزیع اندازه ذرات یا حفره های نانومتری پخش شده در نمونه مورد بررسی است که با استفاده از آن می ­توان توزیع اندازه ذرات یا توزیع اندازه حفره های مواد به صورت های مختلف مانند بی شکل  (Amorphous materials)، بلوری و ماکرومولکول هایی مانند مولکول های پلیمری را برای افت و خیزهای چگالی الکترونی که در نمونه روی می­ دهد، محاسبه کرد که با تجزیه و تحلیل شدت پرتو ایکس پراکنده شده در محدوده زاویه ای یک دهم تا حدود 5 درجه این امر امکان پذیر است.
 

جهت گیری ذرات، سایز نانو ذرات/ حفرات (در مواد متخلخل)، شکل، ساختار داخلی، سطح ویژه (در نانو ذرات) و درجه پراکندگی، اطلاعاتی است که از آنالیز SAXS به دست می آید.
گفتنی است دستگاه پراش اشعه ایکس علاوه بر دانشکده مهندسی مواد و متالورژی، قابلیت ارایه خدمات به صنعت و نیز استفاده توسط دانشکده های شیمی و مهندسی شیمی، نفت و گاز، فیزیک، مهندسی عمران و فناوری های نوین دانشگاه را دارد.
Sapp.ir/iust_iran